X/Gamma射线探测器
X射线探测器
a) X-123：完整X射线探测器系统
b) XR-100：X射线探测器
X-123：完整X射线探测器系统
X-123 是一个完整的X射线探测系统，可快速进入市场。仪器装置齐备，只需要+5V 的直流供电，通过USB 或RS232 连接到电脑即可。X-123 标志着Amptek 多年X 射线探测器研发成果。它提供一个套装中的XR100 X 射线探测器和电荷敏感前置放大器，以及DP5数字脉冲处理器和有PC5电源的多孔道分析仪。
整体系统包括：
1. X射线探测器（SDD,Si-PIN, CdTe）
2. 前置放大器
3. 数字脉冲处理器和多孔道分析仪
4. 电源
X-123 详细参数
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系统性能 |
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能量分辨率 |
根据探测器及其峰化时间和温度的不同，5.9 eV 峰位处半峰宽可达145 至260 eV。 |
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能量范围 |
1.5 至25 keV 时，X 射线能量效率>25%。亦可在降低效率的条件下用于超过该能范围的情况。 |
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最大计数率 |
取决于峰化时间。在激活堆积抑制功能和50%死时间时，推荐最大计数率列于下表。
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探测器和前置放大器 |
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探测器种类 |
Si-PIN (亦可使用SDD 或 CdTe) |
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探测器面积 |
5 mm2 至 25 mm2 |
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探测器厚度 |
300 μm, 500 μm 或 680 μm |
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Be 窗厚度 |
1 mil (25 μm) 或 0.5 mil (12.5 μm) |
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电子制冷 |
2 级 |
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前置放大器种类 |
Amptek 公司为用户定制通过高压联接复位的前放 |
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脉冲处理器 |
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粗调增益 |
四种可通过软件选择的设置：11，21，55 和106 |
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细调增益 |
可通过软件选择从0.75 到1.25，10 位分辨率 |
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系统转换增益 |
在1k 通道情况下, 可达7 to 110 eV/通道, 即总和7 to 110 keV |
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增益稳定性 |
<100 ppm/°C (典型情况) |
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脉冲形状 |
梯形 |
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峰化时间 |
通过软件可选24 个峰化时间，从0.5 至102μs，大致记录间隔相当于0.4 至45 μs 半高斯脉冲整形时间 |
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死时间 |
总死时间相当于1.25 倍峰化时间，无转换时间 |
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快速通道脉冲对分辨时间 |
600 ns |
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多通道分析器 |
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通道数 |
可通过软件选择：8k，4k，2k，1k，0.5k 或0.25k |
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预设值 |
时间，总计数值，感兴趣区（ROI）计数值，单通道内计数值 |
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数据传输 |
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USB |
1.1 (兼容2.0)最高传输速率(12 mbps) |
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串口 |
标准RS232 接口，最高传输速率达57.6 kbaud |
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电源 |
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输入电源 |
+5 V，250mA 直流电，含交流电电源适配器 |
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输入电源范围 |
4 V 至6 V (300 至200 mA，最大500 mA) |
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可提供高压 |
内置倍增器，可调至400 V |
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冷却器 |
闭环控制器，温差达85 °C |
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工作环境 |
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操作温度 |
0 °C to 40 °C |
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总功耗 |
<1.2 Watt |
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保修期 |
1 Year |
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典型寿命 |
根据使用情况，约5 至10 年 |
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保存和运输 |
干燥环境下10 年以上.典型的存储和运输条件：-20°C 至50°C, 无冷凝湿度10%至90% |
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软件界面 |
Amptek 的ADMCA 软件用于数据的采集、控制和显示。可在Windows 98SE 及其之后的PC 操作系统下运行。该软件允许对于X-123 所有功能的控制，包括数据采集和存储。Amptek 公司同时向用户提供DLL 库（API）及样板程序，供用户自己开发软件使用。 |
XR-100 X射线探测器
XR-100CR系列产品由高性能X射线探头，前置放大器（前放）和致冷系统组成，首次采用热电致冷技术保持硅PIN光电二极管的低温工作环境，另外在两级热电致冷器上还安装了输入场效应管(FET)和新型温度反馈控制电路，这样探头组件的温度可保持在约零下55摄氏度左右，并可通过组件内置的温度传感器显示实时温度。探头采用TO-8封装，并利用不透光和不透气（真空封装适用）的薄铍(Be)窗以实现封装后的软X射线探测。
产品特性：
1.硅PIN光电二极管探头；
2.两级热电致冷器；
3.探头温度实时显示；
4.铍（Be）窗；
5.多层准直器；
6.密封封装（TO-8）；
7.检测范围宽，适于多种应用；
8.操作简单，易上手。
应用范围：
1. X射线荧光分析；
2. RoHS/WEE标准检测；
3.便携式设备；
4. OEM应用；
5.核医疗学；
6.高校和科研院所教学研究；
7.艺术和考古学；
8.生产过程监控；
9.穆斯堡尔谱仪；
10.航空及宇航应用；
11.核电站辐射监控；
12.有毒物垃圾场检测；
13.粒子诱发X射线荧光分析（PIXE）
型号选型
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X射线探测器 |
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XR-100探测器 型号 |
X-123完整系统 型号 |
探测器 材料 |
探测器 面积 |
探测器 厚度 |
能量分辨率/ 峰化时间/ 峰背比 @5.9keV（55Fe） |
铍(Be)窗 厚度 |
备注 |
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ZY-FS1120D-G3SP |
Si-PIN |
7 mm2 |
300 µm |
165 - 185 eV 44.8 μs 250/1 |
1 mil |
无内置准直器 |
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ZY-FS4120D-G3SP |
Si-PIN |
13 mm2 |
300 µm |
200 - 220 eV 44.8 μs 550/1 |
1 mil |
无内置准直器 |
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ZY-FSG32MD-G3SP |
Si-PIN |
6 mm2 |
500 µm |
145 - 165 eV 32 μs 6200/1 |
1 mil |
有内置准直器 |
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ZY-FS432MD-G3SP |
Si-PIN |
13 mm2 |
500 µm |
145 - 165 eV 32 μs 6200/1 |
1 mil |
有内置准直器 |
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ZY-FSJ32MD-G3SP |
Si-PIN |
25 mm2 |
500 µm |
180 - 205 e 32 μs 4100/1 |
1 mil |
有内置准直器 |
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ZY-FSG32MD-E2SP |
Si-PIN |
6 mm2 |
500 µm |
190 - 225 eV 32 μs 2000/1 |
0.5 mil |
有内置准直器 |
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ZY-GSJ3AMD-G2SP |
SDD |
25 mm2 |
500 µm |
125 - 140 eV 11.2 μs 8200/1 |
0.5 mil |
有内置准直器 |
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ZY-TC2470D-G4BB |
CdTe |
9 mm2 |
1 mm |
1.2 keV FWHM @ 122 keV, 57Co |
4 mil |
可探测伽马射线 |
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ZY-TC5470D-G4BB |
CdTe |
25 mm2 |
1 mm |
1.5 keV FWHM @ 122 keV, 57Co |
4 mil |
可探测伽马射线 |
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